浪涌（沖擊）抗擾度試驗就是模擬雷擊帶來的干擾影響，但需要指出的是，考核設(shè)備電磁兼容性能的浪涌抗擾度試驗不同于考核設(shè)備高壓絕緣能力的耐壓試驗，前者僅僅是模擬間接雷擊的影響（直接的雷擊設(shè)備通常都無法承受）。浪涌（沖擊）抗擾度試驗所依據(jù)的國際標(biāo)準是IEC61000-4-5:2005，對應(yīng)國家標(biāo)準是GB/T17626.2:200X《電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌（沖擊）抗擾度試驗》。
本標(biāo)準的目的是建立一個共同的基準，以評價電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌(沖擊)時的性能。本標(biāo)準規(guī)定了一個一致的試驗方法，以評定設(shè)備或系統(tǒng)對規(guī)定現(xiàn)象的抗擾度。
1、試驗等級
| 等級 | 開路試驗電壓（10%） | |
| 開模 | 共模 | |
| 1 | - | 0.5 |
| 2 | 0.5 | 1.0 |
| 3 | 1.0 | 2.0 |
| 4 | 2.0 | 4.0 |
| × | 特定 | 特定 |
2、試驗配置
1) 試驗設(shè)備
試驗配置包括設(shè)備：
－ 受試設(shè)備（EUT）；
－ 輔助設(shè)備（AE）；
－ 電纜（規(guī)定類型和長度）；
－ 耦合去耦網(wǎng)絡(luò)；
－ 組合波信號發(fā)生器；
－ 耦合網(wǎng)絡(luò)/保護裝置；
－ 當(dāng)試驗頻率較高（如經(jīng)過氣體放電管耦合）和對屏蔽電纜測試時，需要金屬接地參考平板。只有EUT的典型安裝有金屬接地參考平面，試驗時連接到接地參考平面才是必須的。
2) EUT電源端試驗的配置
1.2/50μs的浪涌經(jīng)電容耦合網(wǎng)絡(luò)加到EUT電源端上（見圖7、圖8、圖9和圖10）。為避免對同一電源供電的非受試設(shè)備產(chǎn)生不利影響，并為浪涌波提供足夠的去耦阻抗，以便將規(guī)定的浪涌施加到受試線纜上，需要使用去耦網(wǎng)絡(luò)。
如果沒有其它規(guī)定，EUT和耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)之間的電源線長度不應(yīng)超過2m。
本標(biāo)準規(guī)定，只有直接連接到交流和直流電源系統(tǒng)的端口才被認為是電源端口。
3、試驗程序
1) 實驗室參考條件
為了使環(huán)境參數(shù)對試驗結(jié)果的影響減至最小，試驗應(yīng)在8.1.1和8.1.2規(guī)定的氣候和電磁環(huán)境基準條件下進行。
2) 氣候條件
除非通用標(biāo)準，行業(yè)標(biāo)準和產(chǎn)品標(biāo)準有特別規(guī)定，實驗室的氣候條件應(yīng)該在EUT和試驗儀器各自的制造商規(guī)定的儀器正常工作的一切范圍內(nèi)。
如果相對濕度很高,以至于在EUT和試驗儀器上產(chǎn)生凝露，則不應(yīng)進行試驗。
3) 電磁環(huán)境
實驗室的電磁環(huán)境不應(yīng)影響試驗結(jié)果。
4) 在實驗室內(nèi)進行浪涌試驗
試驗之前，應(yīng)對信號發(fā)生器和耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)進行校驗。性能檢查對于浪涌脈沖及其電壓和/或電流的存在通常是有限的。
試驗應(yīng)根據(jù)試驗方案進行，方案中應(yīng)規(guī)定試驗配置，應(yīng)包含如下內(nèi)容：
— 試驗等級（電壓）；
— 浪涌次數(shù)；
除非相關(guān)的產(chǎn)品標(biāo)準有規(guī)定，施加在直流電源端和互連線上的浪涌脈沖次數(shù)應(yīng)為正負極性各五次，對交流電源端口，應(yīng)分別在0°、90°、180°、270°相位施加正負極性各五次的浪涌脈沖；
— 連續(xù)脈沖間的時間間隔：1分鐘或更短；
— EUT的典型工作狀態(tài)；
— 浪涌施加的位置。
電源端口（直流或交流）可能是輸入或輸出端口。
注1：
a. 推薦將浪涌施加于那些容易將浪涌傳導(dǎo)入EUT內(nèi)部的輸出端口（如：具有大功率損耗的開關(guān)負載）。如次級電路（與交流電源端口隔離）不會直接遭受瞬態(tài)高壓時（例如:可靠接地、經(jīng)過電容濾波的直流次級電路，峰值的紋波不及支流元件產(chǎn)生的10％）則低電壓(小于等于60V)的直流輸入/輸出端可不進行浪涌試驗。
b. 在有幾個相同線路的情況下，只需選擇一定數(shù)量的線路進行典型測量。
c. 如果試驗中浪涌的重復(fù)率比1/min更短使EUT發(fā)生故障，而以1/min重復(fù)率進行測試時，EUT工作正常，通常使用1/min的重復(fù)率進行測試
注2： 如果產(chǎn)品合適，產(chǎn)品委員會可能選擇不同相位角、或者增加、減少每相的浪涌次數(shù)。
注3：
a. 對常用的浪涌保護裝置，盡管它們的峰值電壓和峰值功率能經(jīng)受大電流，但是它們的平均功率較低。因此，兩次浪涌的時間間隔取決于EUT內(nèi)置的保護裝置。
b. 當(dāng)進行線地測試時，如果沒有其它規(guī)定，應(yīng)依次進行測試。
c. 試驗程序應(yīng)考慮受試設(shè)備的非線性電流-電壓特性，因此，試驗電壓只能由低等級逐步增加到產(chǎn)品標(biāo)準或試驗方案/報告中規(guī)定的試驗等級而不能超過它，所有較低等級（包括選擇的試驗等級）均應(yīng)滿足要求。
d. 對第二級保護試驗時，信號發(fā)生器的輸出電壓應(yīng)增加到第一級保護的最低電壓擊穿值（讓通值）。
如果沒有實際工作信號源提供給EUT，可以對其模擬。
e. 對于驗收試驗，應(yīng)使用以前未曾加過浪涌的設(shè)備，否則在試驗前應(yīng)替換保護裝置。
4、試驗結(jié)果的評估
試驗結(jié)果應(yīng)依據(jù)受試設(shè)備在試驗中的功能喪失或性能降低現(xiàn)象進行分類，相關(guān)的性能水平由設(shè)備的制造商或需要方確定，或由產(chǎn)品的制造商和購買方雙方協(xié)商同意。建議按如下要求分類：
a) 在制造商、委托方或購買方規(guī)定的限值內(nèi)性能正常；
b) 功能或性能暫時喪失或降低，但在騷擾停止后能自行恢復(fù)，不需要操作者干預(yù)；
c) 功能或性能暫時喪失或降低，但需操作人員干預(yù)才能恢復(fù)；
d) 因設(shè)備硬件或軟件損壞，或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。